занимаюсь дефектоскопией слитков кремния. сейчас используется 1.206 мкм лазерный диод 100 мВт, его хватает для достаточно хорошо полированой поверхности. нужно просвечивать слитки с более грубой поверхностью, для чего должен подойти более длинноволновый лазер подскажите где найти диод на длины волн 2-10 микрон вот график Пропускание кремния в диапазоне 1-25 микрон.
Посмотри здесь: http://www.frlaserco.com/index.php?option=com_content&task=view&id=176&Itemid=238 Может что подберёшь.
Кривая спектрального пропускания не слишком информативна в области ближнего ИК. Где точно начинается "полка" пропускания? С 1.2 мкм? Или с 1.25 мкм? Но почему Вы хотите область 2-10 мкм? Видно, что на 1.5 мкм уже всё ОК! На Вашем месте взял бы Er волоконник (ну, в крайнем случе Tm - примерно 2 .0 мкм) и не мучился. Да, чем меньше длина волны, тем проще с детекторами. Si не катит в любом случае, а на 1.5 мкм отлично работает GaAs. Полезете в средний ИК, там уже HgCdTe. А это нелёгкий парад. Кроме того, 1.5 - 2.0 мкм - это ещё стекло. Кварцевое. А в среднем ИК материалы дорогие и капризные. Ведь надо же Вам оптику делать для Вашей системы.
сейчас работаем так: диод 1.206 мкм(уже прозрачно) + пластиковая линза из китайской указки + GaAs детектор, дальше в ИК идём для уменьшения рассеивания на поверхности (о чём и говорил в первом посте)
Я лох! Конечно же InGaAs, "ингас". Детектор одноэлементный или матрица? Если одноэлементный, то как получается изображение просвечиваемой области? Наконец, не понял, почему Вы считаете, что увеличение длины волны существенно уменьшит рассеяние?
фотодиод, механическая развёртка. изходя из "общих соображений" http://en.wikipedia.org/wiki/Rayleigh_scattering надо попробовать. целевая шероховатость поверхности слитка примерно 0.5-1.5 мкм.
Я неправильно понимал. Возможно, продвижение к долее длинным волнам даст эффект. Можно попробвать иммерсию. Хотя жидкостей с n>3.0 я не знаю. Поэтому иммерсия поможет лишь частично.
А может обойтись без жидкости применив углекислотник? Шероховатость поверхности для его длины волны будет более чем побоку.
Не исключено, но видятся, по крайней мере, две (три?) засады: 1. пропускание Si на 10.6 мкм не очень хорошее. Кстати, из приведенного графика нельзя понять, какова же толщина образца. И каков размер були по пучку, которую обмеряет уважаемый lynch. 2. изготовление оптики - дело дорогое и муторное в данном случае. С приёмниками тоже проблемы. 3. наконец, не ясно, какой размер дефекта в слитке надо отловить. 10 мкм - это уже много и дифракция скажет своё веское слово. Картинки по качеству так себе.
Углекислотник громоздкий. Образец представляется из себя квадратированный слиток 156x156x160 мм. Толщина образца почти не влияет на прозрачность. Ловим включения диаметром около 50 мкм.
Отсюда делаем вывод, что потери на пропускание обусловлены френелевским отражением на гранях. Собственное поглощение/рассеяние на используемой для измерения длине волны мало. Остаётся одно: или полировать торцы тщательно или придумывать что-то оригинальное с обработкой собственно изображения. Ну, ещё попытаться с иммерсией чего-то замутить.
Полировать торцы - переорганизация производства. Обработка хитрая - нужно больше сырой информации снимать это долго. Иммерсия - непонятно какую жидкость использовать. Есть предложение 2.3 мкм, 50 мВт диоды, cmount, 2к евро + упаковка врятли дёшего. пока думаем.
