фокусировка линейки 980нм

вопрос теоретический. есть линейка 980нм с выходом под волокно 200мкм. Возможно ли расширить коллиматором луч до 5-10мм и загнать в сканирующую голову, далее на объектив и на деталь и получить ф 50-70 мкм при фокусе 160-200мм. С волоконником 1064 всё работает, теперь надо с 980 диодником.

 

Дас ист фантастише!
не выйдет ничего. Точно посчитать не получится. Всё же коллимация до 5 мм или до 10 - это в два раза. и с фокусом объектива примерно та же хрень. да и про числовые апертуры волокон ничего не говорилось.
но возьмём самый благоприятный случай:
1. пучок идеального качества, М^2 =1;
2. диаметр пучка - 10 мм;
3. фокусируем объективом с f=160 мм.
Итого: дифракционное пятно = примерно 40 мкм. Но это полное шарлатанство, ибо п.1 у нас не выполняется более чем полностью. При многомодовом волокне 200 мкм никакого М^2 =1 не будет. Думаю, можно надеяться на 150 мкм минимум. Правда, вопрос сразу же: "А как измеряем диаметр пятна"?

 

Местные теоретики вывели ф 200 мкм( хотя уже остановились на пятне 1мм). Сказывается нечёткость поставленной задачи. Диаметр пятна можно измерить например проведя линию и потом в микроскоп, если просто, и в пзс матрицу если всё усложнить до мах. Я просто оптику чуть в стороне проходил, и думал, что если расширим пучок с волокна, то на выходе будет норм, а оказывается вот нефига.